Hanwa ESD静电处理-HED-C5000R-双赢电子科技国际有限公司

HED-C5000R是一款专用于模拟器件带电模式(Charged-DeviceModel，CDM)的测试机，以测试封装级半导体元器件或模组的CDM失效等级。

●　比竞品更小的尺寸，低占用面积，高测试效率;

●　更高稳定性、可重复性地充放电;

●　适用于多种测试标准 JEDEC,ESDA,AEC,JEITA,包括

●　ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2022 和 AEC-Q100-011(FI-CDM,D-CDM);

产品说明书

●　内置自动湿度控制和N2封闭室。

●　完全通用的尺寸/配置输出。

●　自动COM波形采集系统，并具有波形保存功能。

可操作性

Zap装置（接地平面）

设备安装夹具（充电板）

主屏幕

特点

比竞品更小的尺寸，低占用面积，高测试效率;

更高稳定性、可重复性地充放电;

适用于多种测试标准 JEDEC,ESDA,AEC,JEITA,包括

ANSI/ESDA/JEDEC JS-002-2022 和 AEC-Q100-011(FI-CDM,D-CDM);