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AMBER

TESCAN AMBER 2 镓离子双束聚焦扫描电子显微镜系统(FIB-SEM)

全自动镓(Ga)离子 FIB-SEM 系统,轻松完成常规样品制备、纳 米尺度样品的精细表征以及多功能原型设计的应用

主要特征

● 通过集成的 TESCAN TEM AutoPrep Pro™ 模 块实现从样品的多个位置全自动地制备多个 TEM样品,显著提升TEM样品的制备效率。

● TESCAN Essence™ 软件界面的直观操作, 可缩短数据获取所需时间,自动化完成 SEM和FIB镜筒的对准,结合先进的样品台 防碰撞报警系统,让非专业用户也能轻松 进行FIB-SEM操作。

● 使用集成的宽离子束进行最终抛光,制备出高 质量且损伤最小的TEM样品。

● 采用倒切或平切的方式制备TEM样品,开拓对挑 战性材料的新表征途径。独特纳米操作手位置设 计,便于将TEM样品从原材料转移到网格上,并 保持选定的特征方向。

● 一台FIB-SEM集成了制造、设计和加工材料的 能力,包括电子束光刻、离子束原型制作、聚 焦电子束诱导沉积(FEBID)或聚焦离子束诱导 沉积(FIBID)应用,展现多功能和卓越的器件 设计能力。

● 搭载全球领先的 OrageTM 型FIB镜筒,其高达 100 nA的离子束电流,可大幅提升分析效率, 快速获取有价值的数据。

● 实现无人值守、多点批量TEM样品制备,让操 作员有更多时间处理其它任务,同时显著提升 吞吐量和工作效率。该功能可支持在样品的不 同位置以及多个样品上进行制备,并能适应在 任何时间段,甚至通宵运行。

● 利用AutoSlicer™ 中直观的模版,其包含的 各类可编辑属性(如材料类型、刻蚀速 率),实现从多种材料中制备具有最佳特 性的TEM样品,满足(S)TEM分析的高标准要 求。

● AMBER 的多模态探测器系统结合能谱 (EDS)、电子背散射衍射仪(EBSD)、飞 行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS)或拉曼 光谱(RAMAN)等,能够同时对样品进行多 维度表征,扩展分析范围,获取更丰富的样品 细节。

● 采用独特的3D ToF-SIMS 断层扫描先进技术, 通过优化的样品几何结构,实现对纳米尺度材料 的深入表征。

● BrightBeamTM 型无漏磁超高分辨电子镜筒,为 各类材料提供超高分辨成像和纳米尺寸分析, 特别针对敏感材料设计了低着陆能量的特性, 保护样品免受损伤。


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产品详情

TESCAN AMBER 2 作为新一代的 FIB-SEM,专为 提升致力于新材料开发和功能性设备创新的实验室的生 产力和精确度而设计。该系统提供了一系列高级自动化 功能,能够满足学术界和研究机构对工作效率和精确度 的严苛要求。

最新一代 TESCAN AMBER 2 以其顶尖的自动化技 术,彻底革新了日常工作流程。其精密的自动SEM和 FIB对准功能,经过匠心独运的设计,极大加快了研究 项目的速度。该系统优化后的自动化程序,不仅极大提 升了时间效率,更保障了极致的精确度与数据的一致性。 让研究人员能够满怀信心地深入挖掘分析的潜力。

此外,TESCAN AMBER 2 将校准过程化繁为简, 极大地提升了用户对仪器的操控能力,即便是初学者也 能轻松掌握。该系统支持多用户高效协作,不仅优化了 设备使用效率,同时营造了一个促进协作的科研环境, 为创新发现提供了肥沃的土壤。

TESCAN AMBER 2 保留了高度定制化的功能,赋 予操作者对仪器参数的控制能力,使他们能够精细调整 实验方案以满足特定的研究需求。

AMBER 2 在其直观的操作系统中为经验丰富的 用户提供了高级设置的访问权限。这种可定制化的 灵活性使用户能够将他们的工作流程进行极为精细 的调整,满足学术研究需求的多样性。

TESCAN AMBER 2 系统通过提供完全自动化的 流程,彻底改变了 TEM 样品的制备。这种自动化 涵盖了每一步,确保了 TEM 样品制备过程的效率和 可靠性。充分利用自动化工作流程,加速了具有空 前一致性的高质量 TEM 样品的准备,并且为在 TEM 样品制备方面经验有限的用户提供了指导,这使得 更多的研究人员能够应用这项技术。通过将标准 OrageTM 型镓离子聚焦离子束镜筒的功能与TESCAN OptiLiftTM、TEM AutoPrep 或 TESCAN AuraTM 集成 Gentle Ion BeamTM 等 TEM 样品制备解决方案相结 合,加强了其在学术研究环境中作为多功能性和高 效性典范的地位。

TESCAN AMBER 2 站在 TEM 样品制备技术的 最前沿,为科学家提供了无与伦比的便捷、精确和 快速的综合体验。TESCAN AMBER 2 是致力于推动 科学探索边界的学术人员的完美伙伴。

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基本规格

BrightBeam™ 无漏磁超高分辨电子镜筒

▪ 肖特基场发射灯丝,预期最短使用寿命可达2年

▪ 电磁 - 静电复合式物镜

▪ 镜筒内电子加速器

▪ 镜筒内多模式的 SE 和 BSE 探测器

▪ 电子束着陆能量: 50 eV–30 keV (电子束减速技术下<50 eV *)              

▪ 通过控制电磁光阑实现束斑最优化

▪ 探针电流: 2 pA – 400 nA, 连续可调

▪ 视野范围: 7 mm @ WD=6 mm, >50 mm @ 最大WD

▪ 放大倍数:2 ~ 2,000,000 x


Orage™ 聚焦离子镜筒

▪ 液态金属镓离子源,预期最短使用寿命 3000 μAh

▪ 配置压电驱动光阑变换器,30 孔光阑

▪ 静电束闸,配置法拉第杯

▪ 离子束能量范围: 500 eV–30 keV

▪ 探针电流: < 1 pA – 100 nA

▪ 最大视野: 1 mm @ 10 keV


FIB-SEM 几何关系

▪ 重合点处 SEM 工作距离: 6 mm

▪ FIB-SEM 夹角: 55°                

电子束分辨率

▪ 1.4 nm @ 1 keV (无漏磁)

▪ 1.3 nm @ 1 keV (减速模式)*

▪ 0.9 nm @ 15 keV (无漏磁)

▪ 0.8 nm @ 30 keV STEM* (无漏磁)                  

低真空分辨率

▪ 1.8 nm @ 30 keV, GSD 探测器*

▪ 3.0 nm @ 3 keV,GSD 探测器*                    

离子束分辨率

▪ 2.5 nm @ 30 keV


5 轴计算机控制优中心马达驱动样品台

▪ X & Y 轴移动行程: 130 mm

▪ Z 轴移动行程: 96 mm

▪ 倾转: 计算机控制优中心式, -70° 到 +90°

▪ 旋转: 计算机控制优中心式, 360 ° (连续可调)

▪ 最大样品高度:92 mm( 不安装旋转台时可达 133 mm)

▪ 最大样品尺寸: 直径180 mm,XY轴移动和旋转不受影响,不能倾 斜 (放置更大尺寸样品可能会让移动行程和旋转受到限制)

▪ 最大样品重量:8000 g

▪ 1000 g(XYZRT 全程可移动)

▪ 8000 g(XYZ 全程可移动)

▪ 摇篮式样品台*               

       
注意:这些移动的范围取决于实际配置和当时的工作距离或 Z轴数值 。
选配 +推荐选配 * 2实现不高于40mm样品的图像导航

样品室

▪ 宽度:340mm

▪ 深度:315mm

▪ 接口数量:20+

▪ 隔振方式:主动式(内置)

▪ 扩展:用于6"和8"晶圆*

▪ 扩展:用于6",8"和12"晶圆(需安装摇篮式样品台)* 扩展:联用拉曼光谱仪(RISETM)*

▪ 观察样品室内部情况的红外摄像机

▪ 第二个红外摄像机*

▪ 集成的等离子清洗器


真空系统

▪ 高真空: < 9x10-3 Pa

▪ 低真空 (N2)*/MultiVac (N2,H2O)*: 7 – 500 Pa

▪ 前级泵: 无油干泵

▪ 样品预抽室*


探测器与附件

▪ 皮安计,包含防碰撞报警功能

▪ 样品室内 Everhart-Thornley 式探测器(E-T)

▪ 镜筒内多模式探测器 (MD)

▪ 镜筒内轴向 BSE/SE 探测器(Axial)

▪ 低真空二次电子探测器(GSD), MultiVac下使用*

▪ 二次离子探测器(SITD)*

▪ 可伸缩-闪烁体式背散射电子探测器 (R-BSE)+

▪ 可伸缩-高灵敏闪烁体式背散射电子探测器(LE-BSE)*

▪ 可伸缩-高灵敏四分割固态背散射电子探测器(4Q LE-BSE)*

▪ 可伸缩-闪烁体式水冷背散射电子探测器, 耐热温度<800 °C *              

▪ 可伸缩-闪烁体式镀铝背散射电子探测器,可同时接收阴极荧光 和背散射电子信号,(Al-coated BSE *)

▪ 可伸缩-集成型阴极荧光探测器(CL),350–650 nm*

▪ 可伸缩-集成型阴极荧光探测器(CL),185–850 nm*

▪ 可伸缩-集成型4通道彩色阴极荧光探测器(Rainbow CL *)

▪ 可伸缩-扫描透射电子探测器(HADF R-STEM) *,可接收明场 (BF), 暗场(DF) 和高角暗场(HADF)信号,最多放置8个 TEM 铜网

▪ 光学导航和联用像机(ONCam)*2

▪ 能谱仪 EDS* (第三方)

▪ 背散射电子衍射仪 EBSD*(第三方)

▪ 波谱仪 WDS* (第三方)

▪ 集成飞行时间二次离子质谱仪 TOF-SIMS*

▪ 共聚焦拉曼光谱仪(RISE™)*


气体注入系统

▪ OptiGIS™* :单支气体注入系统(可伸缩): 最多可配置三支OptiGIS™ 注入系统(多种气体源可选)

可选气体

▪ 铂金属沉积(Pt) +

▪ 钨金属沉积(W)*

▪ 碳沉积(C)*

▪ 绝缘体沉积(SiOx)*

▪ 增强刻蚀(H2O)*

▪ 增强刻蚀(XeF2)*

▪ 可选配其它气体*                

附件

▪ TESCAN OptiLiftTM (XYZR) *

▪ TESCAN 纳米机械手(XYZ) *

▪ 第三方提供的纳米机械手*

▪ 电荷中和枪,用于 FIB 荷电补偿*

▪ 能谱的气动压电快门*

▪ TESCAN AuraTM Gentle 离子束TM                

电子束光刻*

▪ SEM 镜筒的静电束闸*

▪ TESCAN EssenceTM EBL 套装*

▪ TESCAN FlowTM EBL 离线版*                  

扫描系统

SEM 以及 FIB 有各自独立的扫描系统:

▪ 驻留时间: 20 ns–10 ms, 步进或连续可调

▪ 全幅图像扫描, 选中区域扫描,线或点扫描

▪ 图像旋转、移动和倾斜补偿

▪ 帧累积、线累积

▪ DrawBeam™,数字图形发生器,16 位 DAC

电子束:

▪ 动态聚焦

▪ 帧积累漂移校正(DCFA)


图像采集

▪ 最大图像像素: 16k x 16k

▪ 图像纵横比: 1:1, 4:3 和 2:1

▪ 图像拼接,全景图像尺寸无上限(需要自动拼图软件*)

▪ 能够同时支持多达8个实时信号通道

▪ 实时伪彩图像和多通道信号混合

▪ 图像格式: TIFF, PNG, BMP, JPEG 和 GIF

▪ 动态范围: 8 位或16位

电镜控制附件和用户界面:

▪ 键盘和鼠标

▪ 轨迹球

▪ 多功能控制面板+

▪ TESCAN 电镜专用控制软件 Essence™


控制电镜专用计算机

▪ 高性能配置: Intel Core i7 或同等性能处理器, 32 GB 内存, 4 TB HDD 硬盘, Nvidia GTX 1660 或同等性能显卡, Windows 11 Pro 64-bit 操作系统 (可根据要求提供详细信息)

▪ 32” QHD 显示器                  

TESCAN Essence™ 软件

▪ 高度可定制化的界面布局

▪ 可自定义功能键(F-keys)

▪ 多用户账户管理

▪ 快速搜索栏

▪ 撤销/重做功能

▪ 单幅、双幅、四幅或六幅实时图像显示

▪ 多通道实时伪彩图像                    

自动化与半自动化功能

▪ SEM 电子枪和 FIB 离子枪自动控制

▪ 电子枪和电子镜筒对中

▪ 对比度亮度

▪ 自动聚集,自动消像散,自动物镜对中

▪ In-Flight Beam Tracing™ 实现电子束和离子束优化

▪ 电子束束斑优化

▪ 离子束束斑优化

▪ 设置 FIB-SEM 图像重合点

▪ GIS 喷嘴位置和温度控制

▪ 自动 FIB 设置优化                      

Essence™ 高级模块

▪ 测量软件、公差测量软件

▪ 图像处理

▪ 预设参数

▪ 直方图和 LUT 调整

▪ SharkSEMTM 标准版(远程控制)

▪ 三维防碰撞模型软件

▪ 对象区域

▪ 光电联用

▪ DrawBeamTM 电子束写入软件专家版

▪ 定时关机

▪ FIB-SEM 三维重构*

▪ FIB-SEM 三维重构专业版*/多模态版*

▪ CORAL™(用于生命科学的电镜软件模块)*

▪ 自动切片™*

▪ TEM AutoPrep*

▪ TEM AutoPrep Pro*

▪ 自动化电子束写入软件(DrawBeam™ Automate)*

▪ 自动拼图软件*

▪ 样品观察*

▪ FIB-SEM ExpertPI (Python 脚本编辑) *

▪ 系统检查*

▪ Synopsys 客户端*

▪ TESCAN Flow™ (离线处理软件) *


电镜安装

安装要求1

▪ 电源:230V± 10%/50Hz(或120V/60Hz-可选配), 功率2300VA,标配 2kWUPS 一台

▪ 压缩气体: 5–7 bar (73–102 psi), 要求干净、干燥、无油

▪ 泄真空用压缩氮气: 1–7 bar (15–102 psi), 纯度达到或优于99.99% 纯度 (4.0N )

▪ 安装空间: 最小空间 4.2 × 3.1 米; 门宽不小于 1.0 米      

环境要求1

▪ 环境温度:17–24°C,温度变化稳定在2 °C内,每小时温度 波动小于 1 °C

▪ 相对湿度: < 65 %

▪ 环境磁场: 同步 < 300 nT, 异步< 100 nT

▪ 振动: < 10 μm/s (低于 30 Hz), < 20 μm/s (高于 30 Hz)

▪ 噪音: 小于 60 dBC

▪ 海拔: 不高于3000 m


1必须由TESCAN 授权的技术人员进行场地测量。磁场的参数会受到实 际加速电压的影响,此处测定值的加速电压为20 kV。.


培训

▪ 基础培训: TESCAN 工程师安装设备后现场完成。

▪ 高阶培训 (可选):TESCAN 中国演示中心或用户现场。        

电子显微镜布置图 (单位:mm)

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如果机械泵和 TESCAN AMBER 2电镜放在同一房间内,建议在购买电镜的同时购买 TESCAN 静音箱,静音箱为选配且必须单独订购。


© TESCAN GROUP, a. s.

TESCAN AMBER 2是基于TESCAN S8000G 升级的机型。

TESCAN 技术受专利保护,如 WO2015003671A3, CZ301692B6, US2015279616A1,CZ28392U1, US9721781B2, US10886139B2,

US2019074184A1, WO2019185069A1, WO2021244685A1, CZ2020474A3 等。

BrightBeam™, Wide Field Optics™, In-Flight Beam Tracing™, DrawBeam™, TESCAN Essence™ ,TESCAN AuraTM, OptiGISTM和 EquiPower™ 都是

TESCAN GROUP, a. s.的商标。

Gentle Ion BeamTM 是 Technoorg Linda Co Ltd.的商标。

RISE™ 是 WITec Wissenschaftliche Instrumente und Technologie GmbH 的商标。

Windows™ 是微软公司的商标。