●　非磁性纳米材料的超高分辨率和高衬度成像能力。

●　独特的镜筒内探测器设计:TriBE^TM探测器系统与TriSEM^TM探测器，更适用于纳米材料表征。

●　实现镜筒内背散射电子探测器能量过滤功能。

●　电子束实时追踪(In Flight BeamTracing^TM)技术实现最佳的成像和分析条件。

●　直观、模块化的Essence^TM软件，任何操作水平的人员均可熟练操作。

TESCAN AMBER 2 镓离子双束聚焦扫描电子显微镜系统（FIB-SEM）

全自动镓（Ga）离子 FIB-SEM 系统，轻松完成常规样品制备、纳 米尺度样品的精细表征以及多功能原型设计的应用

独特的无漏磁超高分辨SEM与等离子体FIB的完美组合，同时具备高精度和高 效率的特点，为多模态材料表征和 TEM 样品制备提供了最全面的解决方案

第一台集成、旋进辅助的分析型近超高真空的4D-STEM

TESCANTENSOR是世界上第一台专业用于多模态表征功能材料、薄膜、天然和合成颗粒的纳米形态、化学和结构特性的4D-STEM,具有出色的4D-STEM性能和前所未有的普遍适用性。