Quadra 7 Pro 搭载行业领先的X射线检测技术，具备100nm特征分辨能力，可生成高达650万像素的超高清X光图像，并通过超宽4K曲面显示器实现点对点精准呈现。凭借前沿科技加持，画质锐利清晰，助力您精准捕捉每一处关键细节，绝不遗漏。

Quadra 5 Pro 搭载行业领先的X射线检测技术，具备300nm特征分辨能力，可生成高达330万像素的超高清X光图像，并点对点地显示在一个超宽曲面显示器上。我们用最新的科技，确保锐利的画质，不让您错过任何细节。

Quadra 3 Pro 搭载行业领先的X射线检测技术，具备750nm特征分辨能力，可生成高达160万像素的超高清X光图像，并点对点地显示在一个超宽曲面显示器上。我们用最新的科技，确保锐利的画质，不让您错过任何细节。

Jade Plus可以独特地检测您的产品品质。作为标准配置 的先进测量功能可将X射线图像转换为定量数据，利用这 些数据,您可以尽早发现新出现的品质趋势，以免为时已 晚。

通过自动检测程序节省批量电路板的检测时间。程序仅需 一次编程，然后放置电路板并单击运行即可。几秒钟内生 成报告,报告可以保存在本地或中央数据库中。

Jade Plus采用开放式X射线管，钨丝可更换，最高在3 W功率下可达1μm特征分辨