可靠老化设备-双赢电子科技国际有限公司

中安是国内电子元器件可靠性行业领先的可靠性测试设备供应商&整体解决方案服务商。二十多年来，中安作为一家国家高新技术企业，一直致力于电子元器件可靠性测试设备的研发、生产和服务。

随着国内半导体市场的迅猛发展，公司加大了半导体产业开发，在功率半导体器件、IGBT模块可靠性测试以及SoC、MCU、Memory等集成电路可靠性测试设备均处于行业领先地位。

我们坚信：全体中安人秉持【让电子元器件变得更可靠】的使命，通过不懈追求，中安电子一定会成为全球领先的可靠性测试设备供应商&整体解决方案服务商。

系统适用于SiC 8英寸及以下晶圆的高温反偏HTRB+ / HTRB- 及高温栅偏试验HTGB、老化筛选；更早地阻断不良die进入后道的切割，封装，老化测试等环节。

适用于各种封装形式的模拟、数字、数模混合集成电路，包括超大规模集成电路例如SoC、MCU、Memory等IC器件的高温动态老炼筛选和寿命试验。

贴合AEC-Q101标准要求开发设计，功能覆盖二极管、三极管、MOS管、IGBT单管等Si / SiC / GaN分立器件的间歇寿命试验IOL 和稳态寿命试验CFOL；系统可直观监测IOL试验全过程中每个DUT的△Tj。

满足各种封装形式的二极管、三极管、场效应管、IGBT单管和可控硅等半导体分立器件高温反偏/栅偏试验(HTRB /HTGB)和高温漏电流测试(HTIR)。